随着电子信息产业的持续发展，ITO靶材的消耗量逐年增长，随之产生的废旧靶材也成为一个不可忽视的物料类别。这些废旧靶材主要来源于两个环节：一是生产过程中因达到使用寿命而失效的靶材，其表面镀膜区域已被消耗，剩余部分无法继续有效使用；二是靶材制造环节产生的加工余料或不合格品。若将其作为普通固体废物处理，不仅是对蕴含稀有金属铟资源的巨大浪费，其不当处置还可能带来环境风险。

一、实验室检测法（推荐用于结算定值）

当需要为交易或工艺控制提供数据时，应采用以下高精度分析方法：

‌EDTA滴定法‌

适用于废ITO靶材中高含量铟的测定。通过盐酸溶样、氢溴酸除锡、阳离子交换树脂分离杂质后，在pH 2.3–2.5条件下用EDTA标准溶液滴定铟离子。该方法重复性好，相对标准偏差仅0.15%，回收率达99.8%~100.2%，适合企业质检与第三方检测机构使用。

‌ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱法）‌

将样品完全消解后，利用ICP-OES测定溶液中铟的特征谱线强度，实现多元素同步定量。该方法灵敏度高、线性范围宽，可同时检测锡、铁、锌等共存元素，是目前行业公认的主流检测手段。

‌原子吸收光谱法（AAS）‌

对于中小型企业或实验室条件有限的情况，AAS也是一种成熟可靠的选项，尤其适用于中高浓度铟的测定，操作简便且成本较低。

上述方法均需专业设备和人员操作，建议送至具备CMA认证的检测机构进行，以确保结果具备法律效力和市场公信力。

氧化铟锡靶材是制造透明导电薄膜的核心材料，广泛应用于平板显示器、触控面板、太阳能电池等领域。其生产对高纯度铟和锡资源依赖性强，而铟作为一种稀散金属，在地壳中储量有限且分布不均。随着电子信息产业持续扩张，对靶材的需求增长与初级矿产资源有限性之间的矛盾日益凸显，这使得从废弃靶材或生产废料中回收有价金属，不仅成为一种资源补充途径，更是一项涉及材料科学、冶金工程和环境保护的综合性技术课题。

从能源维度看，不同回收技术的能耗结构差异显著。湿法工艺的能耗主要集中于溶液的加热、搅拌以及电解工序；火法工艺，尤其是真空高温过程，则直接消耗大量热能。评价其能源效益需结合金属回收率与产品纯度进行全流程核算。一般而言，回收再生金属的能耗远低于从原矿中生产同等金属的能耗。